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“电池片光电转化效率检测系统”参数说明
| 电池片： | 量子效率测量 | 分类： | 测量测试仪器 |
“电池片光电转化效率检测系统”详细介绍
PVE300为太阳能电池光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率IPCE（Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency）测试等，配备可选的集成范围，还能够测量内部量子效率（IQE），以及对反射系数和透射比进行采样。广义来说，就是测量光电材料的光生电流特性在不同波长光照条件下的数值。
基于Bentham公司专业的技术及25年的行业经验，PVE300能够快速并准确的给出分析数据，是经过市场检验的被广泛应用的著名的国际品牌。
产品特点：
■适用于所有种类太阳电池（含薄膜电池），包括：
单晶硅/多晶硅/非晶硅/砷化镓GaAs/镓铟磷GaInP/磷化铟InP/锗Ge/碲化镉CdTe/铜铟硒CIS/铜铟镓硒CIGS/染料敏化DSSC/有机太阳电池/聚合物太阳电池
■适用于多种结构的太阳电池：单结Single junction/多结multi junction/薄膜thin film 等
■完整的分析系统：
光谱响应度/外量子效率/内量子效率/反射率测试/透过率测试/表面均匀度/短路电流密度
■可以实现全光谱太阳光模拟（300~2500nm），测试的光伏材料拓展至近红外
■直接测量SR及QE
■横流器，偏压源及内置探测器保证测试精度
■光密测量室
■20x20cm温度控制真空装置，精度在小于1度
■选择单个或多个通道的太阳模拟器
■校准的参考硅/锗探测器
■整个产品软件的兼容性超强
■一体化设计操作更方便，系统更稳定
■系统可升级到采用双单色参考太阳能装置规定的最高的精度测量的要求。
■提供完整的3年标准保修。
选配功能：
■选配内部量子效率（IQE）装置
■自动化XY平台，对均匀性的精确测量
■第二套单色仪（能测量荧光材料的均匀性和特征）
■根据客户需求设计和配置
技术参数：
单色探头
探头光源石英卤素灯和/或氙气
单色配置对称，切尔尼-特纳（Czerny-Turner）型光栅单色器
单色焦距 300毫米
带宽可调整的固定狭缝，1-10nm（典型）
光栅数 1-3
分辨率 0.3nm（1200g/mm）；0.6nm（600g/mm）
色散 2.7nm/mm（1200g/mm）；5.4nm/mm（600g/mm）
波长精度±0.2nm（1200g/mm）；±0.4nm（600g/mm）
探头成像系统基于镜像
探头尺寸 1-10mm
温控装置
温度控制珀尔贴（Peltier-based）热泵
温度稳定性±1℃
太阳模拟器
传输方式分支纤维束
偏置源辐照 0-1.5太阳
偏压源的均匀性±1％
检测电子装置
参考校准器硅300-1100nm；锗800-1800nm
最大的光电流变压器〜1A；477放大器〜100mA
最小响应（变压器）0.03 A W-1 nm-1 5nm BW，2毫米探头
软件
软件控制 BenWin＋Windows应用程序
测量能力
光谱响应，S（λ）（AW-1）绝对的光谱响应的设备
外部量子效率EQE（λ）（％）EQE（λ）（％）＝1.24x105xS（λ）/λ（nm），也被称为IPCE.
样品的反射率，R（λ）（％）总反射率（漫反射和镜面）
样品的透过率T（λ）（％）漫透射
内部量子效率，IQE（λ）（％）
考虑到光子达到活跃的地区的修正
基于Bentham公司专业的技术及25年的行业经验，PVE300能够快速并准确的给出分析数据，是经过市场检验的被广泛应用的著名的国际品牌。
产品特点：
■适用于所有种类太阳电池（含薄膜电池），包括：
单晶硅/多晶硅/非晶硅/砷化镓GaAs/镓铟磷GaInP/磷化铟InP/锗Ge/碲化镉CdTe/铜铟硒CIS/铜铟镓硒CIGS/染料敏化DSSC/有机太阳电池/聚合物太阳电池
■适用于多种结构的太阳电池：单结Single junction/多结multi junction/薄膜thin film 等
■完整的分析系统：
光谱响应度/外量子效率/内量子效率/反射率测试/透过率测试/表面均匀度/短路电流密度
■可以实现全光谱太阳光模拟（300~2500nm），测试的光伏材料拓展至近红外
■直接测量SR及QE
■横流器，偏压源及内置探测器保证测试精度
■光密测量室
■20x20cm温度控制真空装置，精度在小于1度
■选择单个或多个通道的太阳模拟器
■校准的参考硅/锗探测器
■整个产品软件的兼容性超强
■一体化设计操作更方便，系统更稳定
■系统可升级到采用双单色参考太阳能装置规定的最高的精度测量的要求。
■提供完整的3年标准保修。
选配功能：
■选配内部量子效率（IQE）装置
■自动化XY平台，对均匀性的精确测量
■第二套单色仪（能测量荧光材料的均匀性和特征）
■根据客户需求设计和配置
技术参数：
单色探头
探头光源石英卤素灯和/或氙气
单色配置对称，切尔尼-特纳（Czerny-Turner）型光栅单色器
单色焦距 300毫米
带宽可调整的固定狭缝，1-10nm（典型）
光栅数 1-3
分辨率 0.3nm（1200g/mm）；0.6nm（600g/mm）
色散 2.7nm/mm（1200g/mm）；5.4nm/mm（600g/mm）
波长精度±0.2nm（1200g/mm）；±0.4nm（600g/mm）
探头成像系统基于镜像
探头尺寸 1-10mm
温控装置
温度控制珀尔贴（Peltier-based）热泵
温度稳定性±1℃
太阳模拟器
传输方式分支纤维束
偏置源辐照 0-1.5太阳
偏压源的均匀性±1％
检测电子装置
参考校准器硅300-1100nm；锗800-1800nm
最大的光电流变压器〜1A；477放大器〜100mA
最小响应（变压器）0.03 A W-1 nm-1 5nm BW，2毫米探头
软件
软件控制 BenWin＋Windows应用程序
测量能力
光谱响应，S（λ）（AW-1）绝对的光谱响应的设备
外部量子效率EQE（λ）（％）EQE（λ）（％）＝1.24x105xS（λ）/λ（nm），也被称为IPCE.
样品的反射率，R（λ）（％）总反射率（漫反射和镜面）
样品的透过率T（λ）（％）漫透射
内部量子效率，IQE（λ）（％）
考虑到光子达到活跃的地区的修正